Enviar artigo por via de e-mail Comparative evaluation of the reliability of transistor and diode batches
- Autores: Bordyuzha O.1, Gorlov M.2
-
Afiliações:
- Воронежский государственный лесотехнический университет
- Воронежский государственный технический университет
- Edição: Nº 8 (2025)
- Páginas: 82-90
- Seção: Reliability and validation
- URL: https://journals.eco-vector.com/1992-4178/article/view/695973
- DOI: https://doi.org/10.22184/1992-4178.2025.250.8.82.90
- ID: 695973
Citar
Texto integral
Acesso aberto
Acesso está concedido
Acesso é pago ou somente para assinantes
Resumo
The article proposes six methods for comparatively assessing the quality and reliability of semiconductor device batches. Variable parameters and characteristics are described, and the methods’ reliability is analyzed. All methods are patented and tested on batches of semiconductor products manufactured at Russian electronics industry enterprises.
Texto integral
Sobre autores
O. Bordyuzha
Воронежский государственный лесотехнический университет
Autor responsável pela correspondência
Email: boroleg36@gmail.com
Rússia, Воронеж
M. Gorlov
Воронежский государственный технический университет
Email: boroleg36@gmail.com
Rússia, Воронеж
Bibliografia
- Патент РФ №2226698, опубл. 10.04.2004, бюллетень № 10.
- Патент РФ №2490656, опубл. 20.08.2013.
- Патент РФ №2357263, опубл. 17.05.2009. Способ отбраковки полупроводниковых изделий. Авторы: Горлов М.И., Жарких А.И.
- Патент РФ №2538032, опубл. 10.01.2015. Способ сравнительной оценки надежности партий полупроводниковых изделий. Авторы: Горлов М.И., Смирнов Д.Ю.
- Горлов М.И., Ануфриев Л.И., Достанко А.К., Смирнов Д.Ю. Диагностика твердотельных структур по параметрам низкочастотного шума. Мн.: Интеграл полиграф, 2006. 112 с.
- Горлов М.И., Емельянов А.В., Плебанович В.М. Электростатические заряды в электронике. Мн.: Бел. наука, 2006. 295 с.
- ОСТ 11 073.013-83. Микросхемы интегральные. Методы испытаний. Часть 2 (испытания на воздействие климатических факторов и сред заполнения). С. 15–17.
- Патент РФ №2464583. Опубл. 20.10.2012, бюл. №29. Способ сравнительной оценки надежности полупроводниковых изделий в пластмассовых корпусах. Авторы: Горлов М.И., Тихонов Р.М., Мешкова М.П.
Arquivos suplementares
