English
Русский
Эко-вектор
Наноиндустрия
ISSN 1993-8578 (Print) ISSN 2687-0282 (Online)
Меню     Архив
  • Главная
  • О журнале
    • Редакция
    • Редакционная политика
    • Правила для авторов
    • О журнале
  • Выпуски
    • Поиск
    • Текущий выпуск
    • Ретрагированные статьи
    • Архив
  • Контакты
  • Подписка
  • Все журналы
Пользователь
Забыли пароль? Регистрация
Уведомления
  • Посмотреть
  • Подписаться
Подписка Войти в систему, чтобы проверить подписку
Поиск
Листать
  • выпуски
  • По автору
  • по заглавиям
  • по разделам
  • другие журналы
  • Категории
Ключевые слова ИК-спектроскопия атомно-силовая микроскопия биомеханика бионаноскопия живые системы космическая пыль механические свойства морфология поверхности наноинженерия нанотехнологии наночастицы обработка данных пероксидаза хрена сканирующая зондовая микроскопия сканирующая капиллярная микроскопия сканирующая туннельная микроскопия солнечный ветер спутник Земли стволовые клетки твердость тонкопленочные системы
×
Пользователь
Забыли пароль? Регистрация
Уведомления
  • Посмотреть
  • Подписаться
Подписка Войти в систему, чтобы проверить подписку
Поиск
Листать
  • выпуски
  • По автору
  • по заглавиям
  • по разделам
  • другие журналы
  • Категории
Ключевые слова ИК-спектроскопия атомно-силовая микроскопия биомеханика бионаноскопия живые системы космическая пыль механические свойства морфология поверхности наноинженерия нанотехнологии наночастицы обработка данных пероксидаза хрена сканирующая зондовая микроскопия сканирующая капиллярная микроскопия сканирующая туннельная микроскопия солнечный ветер спутник Земли стволовые клетки твердость тонкопленочные системы
Главная > Поиск > Информация об авторе

Информация об авторе

Яминский, Д. И.

Выпуск Раздел Название Файл
Том 17, № 3-4 (2024) Оборудование для наноиндустрии "ФемтоСкан Онлайн": обработка и фильтрация изображений
Том 17, № 6 (2024) Оборудование для наноиндустрии Сканирующая капиллярная микроскопия для биологических применений
Том 17, № 2 (2024) Нанотехнологии Кварцевая эталонная мера для сканирующей зондовой микроскопии
Том 17, № 2 (2024) Оборудование для наноиндустрии Дифракционная решетка как средство метрологического сопровождения микроскопии
 

ЖУРНАЛЫ

Каталог журналов

Отправить статью для публикации

Сервисы для авторов

ПРАВОВАЯ ИНФОРМАЦИЯ

Согласие на обработку персональных данных

Политика конфиденциальности

Пользовательское соглашение

Политика рекламной рассылки

ИНФОРМАЦИЯ

Поиск статей

Для читателей

Подписка

СЕРВИСЫ

Реклама на сайте

Реклама в журналах и репринты

Помощь по сайту

Партнерская программа

КОНТАКТЫ Эко-Вектор

191181, Санкт-Петербург, Аптекарский переулок, д.3, литера А, помещение 1Н

Телефон: +7 (812) 648 8367

Email: info@eco-vector.com

ПОДПИСКА

Телефон: +7 (495) 409 8339

Email: podpiska@eco-vector.com

 

Developed by ECO-VECTOR

 

Powered by EVESYST

TOP