A STUDY ON THE IRON STRUCTURE FORMATIONON SILICON SURFACES FOR DIFFERENT TECHNOLOGICAL CONDITIONSBY MEANS OF ATOMIC FORCE MICROSCOPY


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Аннотация

This research is about the iron-silicon surface topology structures acquired by means of Atomic Force Microscopy. The temperature conditions used for obtaining these samples vary.

Негізгі сөздер

Әдебиет тізімі

  1. Миронов, В. Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии / В. Л. Миронов. М. : Техносфера, 2005.
  2. Ishizaka, A. / A. Ishizaka, Y . Shiraki / / A. J. Electrochem. Soc.: Electrochemical sciense and Techology. 1986. P . 666-671.

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML
Жүктеу

© Alexandrova G.A., Vaituzin O.P., Berezitskaya E.P., Parshin A.S., Varnakov S.N., Ovchinnikov S.G., 2009

Creative Commons License
Бұл мақала лицензия бойынша қолжетімді Creative Commons Attribution 4.0 International License.