Acoustic microscopy: detecting hidden defects

Мұқаба

Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Рұқсат ақылы немесе тек жазылушылар үшін

Аннотация

The article discusses one of the most effective methods of microelectronic component non-destructive testing – ultrasonic acoustic microscopy, used to detect hidden defects.

Толық мәтін

Рұқсат жабық

Авторлар туралы

P. Varlamov

Компания «Глобал Микроэлектроника»

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: vpi@global-micro.ru

ведущий инженер

Ресей

V. Lelyaev

Компания «Глобал Микроэлектроника»

Email: VL@global-micro.ru

руководитель направления

Ресей

Әдебиет тізімі

  1. Халиуллина А.В., Хайрутдинов Б.И. Ультразвук в медицине. Учебное пособие. Казань, 2022. 117 с.
  2. Park S. AcouLab Semiconductor Basic Education 2008.
  3. Бояркин Е.В., Кочетков А.С., Бехер С.А. Физические основы ультразвукового контроля. Руководство по подготовке к экзамену. Учебное пособие. Новосибирск: Издательство СГУПС, 2018. 38 с.
  4. Ефимов И.Е., Козырь И.Я., Горбунов Ю.В. Микроэлектроника. Физические и технические основы, надежность. М.: Высшая школа, 1986. 464 с.

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML
Жүктеу
2. Fig. 1. The results of scanning the microcircuit with an ultrasonic wave: depth slice and 3D reconstruction

Жүктеу (230KB)
Метадеректер
3. Fig. 2. The focal area of the converter

Жүктеу (149KB)
Метадеректер
4. Fig. 3. The principle of ultrasonic defect detection

Жүктеу (108KB)
Метадеректер
5. Fig. 4. SAM Mini scanning acoustic microscope from Acculab company

Жүктеу (146KB)
Метадеректер
6. 5. Radiation patterns of ultrasonic waves of various frequencies: a – 500 kHz; b – 1 MHz; c – 2 MHz; d – 5 MHz (transducer diameter 5 mm, wave propagation velocity 1480 m/s)

Жүктеу (173KB)
Метадеректер
7. Table

Жүктеу (741KB)
Метадеректер

© Varlamov P., Lelyaev V., 2024