Acoustic microscopy: detecting hidden defects

Cover Page

Cite item

Full Text

Open Access Open Access
Restricted Access Access granted
Restricted Access Subscription or Fee Access

Abstract

The article discusses one of the most effective methods of microelectronic component non-destructive testing – ultrasonic acoustic microscopy, used to detect hidden defects.

Full Text

Restricted Access

About the authors

P. Varlamov

Компания «Глобал Микроэлектроника»

Author for correspondence.
Email: vpi@global-micro.ru

ведущий инженер

Russian Federation

V. Lelyaev

Компания «Глобал Микроэлектроника»

Email: VL@global-micro.ru

руководитель направления

Russian Federation

References

  1. Халиуллина А.В., Хайрутдинов Б.И. Ультразвук в медицине. Учебное пособие. Казань, 2022. 117 с.
  2. Park S. AcouLab Semiconductor Basic Education 2008.
  3. Бояркин Е.В., Кочетков А.С., Бехер С.А. Физические основы ультразвукового контроля. Руководство по подготовке к экзамену. Учебное пособие. Новосибирск: Издательство СГУПС, 2018. 38 с.
  4. Ефимов И.Е., Козырь И.Я., Горбунов Ю.В. Микроэлектроника. Физические и технические основы, надежность. М.: Высшая школа, 1986. 464 с.

Supplementary files

Supplementary Files
Action
1. JATS XML
2. Fig. 1. The results of scanning the microcircuit with an ultrasonic wave: depth slice and 3D reconstruction

Download (230KB)
3. Fig. 2. The focal area of the converter

Download (149KB)
4. Fig. 3. The principle of ultrasonic defect detection

Download (108KB)
5. Fig. 4. SAM Mini scanning acoustic microscope from Acculab company

Download (146KB)
6. 5. Radiation patterns of ultrasonic waves of various frequencies: a – 500 kHz; b – 1 MHz; c – 2 MHz; d – 5 MHz (transducer diameter 5 mm, wave propagation velocity 1480 m/s)

Download (173KB)
7. Table

Download (741KB)

Copyright (c) 2024 Varlamov P., Lelyaev V.