Acoustic microscopy: detecting hidden defects
- Authors: Varlamov P.1, Lelyaev V.1
-
Affiliations:
- Компания «Глобал Микроэлектроника»
- Issue: No 10 (2024)
- Pages: 164-167
- Section: Reliability and validation
- URL: https://journals.eco-vector.com/1992-4178/article/view/653404
- DOI: https://doi.org/10.22184/1992-4178.2024.241.10.164.167
- ID: 653404
Cite item
Abstract
The article discusses one of the most effective methods of microelectronic component non-destructive testing – ultrasonic acoustic microscopy, used to detect hidden defects.
Full Text

About the authors
P. Varlamov
Компания «Глобал Микроэлектроника»
Author for correspondence.
Email: vpi@global-micro.ru
ведущий инженер
Russian FederationV. Lelyaev
Компания «Глобал Микроэлектроника»
Email: VL@global-micro.ru
руководитель направления
Russian FederationReferences
- Халиуллина А.В., Хайрутдинов Б.И. Ультразвук в медицине. Учебное пособие. Казань, 2022. 117 с.
- Park S. AcouLab Semiconductor Basic Education 2008.
- Бояркин Е.В., Кочетков А.С., Бехер С.А. Физические основы ультразвукового контроля. Руководство по подготовке к экзамену. Учебное пособие. Новосибирск: Издательство СГУПС, 2018. 38 с.
- Ефимов И.Е., Козырь И.Я., Горбунов Ю.В. Микроэлектроника. Физические и технические основы, надежность. М.: Высшая школа, 1986. 464 с.
Supplementary files
Supplementary Files
Action
1.
JATS XML
2.
Fig. 1. The results of scanning the microcircuit with an ultrasonic wave: depth slice and 3D reconstruction
Download (230KB)
Download (149KB)
Download (108KB)
Download (146KB)
6.
5. Radiation patterns of ultrasonic waves of various frequencies: a – 500 kHz; b – 1 MHz; c – 2 MHz; d – 5 MHz (transducer diameter 5 mm, wave propagation velocity 1480 m/s)
Download (173KB)
Download (741KB)
