Поиск

Выпуск
Название
Авторы
Фотонная эмиссия – инновационный метод анализа дефектов в микроэлектронике
Плебанович В., Светенкова В., Гришкевич В.
Автоматический ремонт плат после волновой пайки – не мечта, а уже реальность
Рубай Д.
Мультисенсорная кластерная сканирующая система кругломеров
Епифанцев К.
В погоне за совершенством: от глубоко машинного обучения к искусственному интеллекту в системах оптической инспекции (АОИ) Maker-Ray. Часть 1
Рожков И., Гаранин А., Подольский Д.
Обоснование применения помехоподавляющей схемы бесконтактного датчика для измерения дефектов геометрии
Епифанцев К.
Автоматизация и калибровка мультиплексной системы датчиков измерения дефектов формы
Епифанцев К., Куркова О.
Измерения дефектов формы с помощью кватернионных алгоритмов геометрического преобразования
Епифанцев К.
Акустическая микроскопия: выявление скрытых дефектов
Варламов П., Леляев В.
Применение прецизионных методов для электрического контроля металлокерамических корпусов
Шугаепов Ш., Егошин В., Ермолаев Е., Тайков Д.
Основные механизмы воздействия специальных факторов на полупроводниковую структуру
Селин Д.
Исследование лазерных сканирующих систем для измерения дефектов формы
Епифанцев К.
1 - 11 из 11 результатов
Подсказки:
  • Ключевые слова чувствительны к регистру
  • Английские предлоги и союзы игнорируются
  • По умолчанию поиск проводится по всем ключевым словам (агенс AND экспериенцер)
  • Используйте OR для поиска того или иного термина, напр. образование OR обучение
  • Используйте скобки для создания сложных фраз, напр. архив ((журналов OR конференций) NOT диссертаций)
  • Для поиска точной фразы используйте кавычки, напр. "научные исследования"
  • Исключайте слово при помощи знака - (дефис) или оператора NOT; напр. конкурс -красоты или же конкурс NOT красоты
  • Используйте * в качестве версификатора, напр. научн* охватит слова "научный", "научные" и т.д.